事業内容
- カスタム試験機の開発・販売
- LabVIEW、Visual C++、C#等による計測器制御・データ解析用ソフトウェア作成
- PCベースの計測システム立案・製作
- FPGA回路設計
- 計測器組込マイコンのソフトウェア作成
開発例
ピンホール式試験機
販売を開始しました。詳しくはこちらをご覧ください
抵抗計測の不確かさ評価システム
基準抵抗と被測定抵抗を用いた抵抗測定での不確かさを評価するシステムです。東京都立産業技術研究センターとの共同研究で開発しました。
デジタルマルチメーターとスキャナを制御して2つの抵抗を切り替え、複数回測定します。不確かさ評価項目に入力したパラメータと計測値から、被測定抵抗の抵抗値と不確かさを算出します。
結果はエクセルに出力し、ご要望によりお客様独自の校正証明書作成にも対応します。また、標準で3種類のマルチメーターに対応していますが、それ以外の機種を追加することも可能です。
東京都立産業技術研究センターの広報誌に紹介されました。こちらダウンロードできます。
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